Przetworniki danych

Przetworniki danych

Dostępność:aktualnie niedostępny 0 egz.
ISBN:978-83-206-1775-7
EAN:9788320617757
Kod tytułu:45206
Szerokość:165 mm
Wysokość:235 mm
98,00 zł
88,20 zł
Cena netto: 84,00 zł
(5% VAT)
Ilość stron 442
Miejsce wydania Warszawa
Numer wydania 1
Oprawa miękka
Rok wydania 2010
Typ Książka
PKWiU 58.11.1
Język polski
Tłumacz Michał Nadachowski
Podręcznik poświęcony współczesnym przetwornikom analogowo-cyfrowym (A/C) i cyfrowo-analogowym (C/A). Zawiera wszystkie informacje niezbędne do pełnego zrozumienia zagadnień próbkowania, kwantyzacji oraz szumu w systemach z danymi spróbkowanymi, parametrów charakteryzujących poszczególne przetworniki, metod stosowanych w przetwornikach pracujących zgodnie z częstotliwością Nyquista i analizy ich właściwości, działania przetworników z nadpróbkowaniem i sigma-delta wraz z przykładami, jak również metod korekcji i kalibracji cyfrowej, testowania i opisu sposobów przetwarzania danych przy testowaniu i pomiarach parametrów.Odbiorcy książki: studenci wydziałów elektroniki i technik informacyjnych wyższych uczelni technicznych, inżynierowie elektronicy oraz wszyscy zainteresowani współczesnymi przetwornikami A/C i C/A.

Spis treści:

Wykaz wybranych skrótów angielskich
Przedmowa
Rozdział 1
Wiadomości podstawowe

1.1. Idealny przetwornik danych
1.2. Próbkowanie
1.2.1. Podpróbkowanie
1.2.2. Jitter czasu próbkowania
1.3. Kwantyzacja wartości sygnału
1.3.1. Szum kwantyzacji
1.3.2. Właściwości szumu kwantyzacji
1.4. Szum kT/C
1.5. Dyskretne i szybkie przekształcenia Fouriera
1.6. Sposoby zapisu
1.7. Przetwornik c/a
1.7.1. Odtwarzanie idealne
1.7.2. Odtwarzanie rzeczywiste
1.8. Przekształcenie Z
Zadania
Literatura
Rozdział 2
Parametry przetworników danych

2.1. Rodzaj przetwornika
2.2. Warunki pracy
2.3. Podział parametrów
2.4. Właściwości ogólne
2.5. Parametry statyczne
2.6. Parametry dynamiczne
2.7. Parametry związane z przełączaniem i z sygnałami cyfrowymi
Zadania
Literatura
Rozdział 3
Przetworniki cyfrowo-analogowe pracujące zgodnie z częstotliwością Nyquista

3.1. Wprowadzenie
3.1.1. Zastosowania przetworników c/a
3.1.2. Źródła napięcia i prądu odniesienia
3.2. Rodzaje przetworników
3.3. Układy z sieciami rezystorów
3.3.1. Dzielnik rezystorowy
3.3.2. Wybór X-Y
3.3.3. Ustalanie się napięcia wyjściowego
3.3.4. Metoda segmentowa
3.3.5. Wpływ niedopasowania
3.3.6. Trymowanie i kalibracja
3.3.7. Potencjometr cyfrowy
3.3.8. Przetworniki c/a z drabinką rezystorową R-2R
3.3.9. Usuwanie zakłóceń szpilkowych
3.4. Układy z sieciami kondensatorów
3.4.1. Przetwornik c/a z dzielnikiem pojemnościowym
3.4.2. Pojemnościowy przetwornik MDAC
3.4.3. Przetworniki typu flip-around MDAC
3.4.4. Hybrydowe przetworniki c/a pojemnościowo-rezystorowe
3.5. Układy ze źródłami prądowymi
3.5.1. Podstawy działania
3.5.2. Jednostkowe źródło prądowe
3.5.3. Losowe niedopasowanie z wyborem jednostkowym
3.5.4. Wybór źródeł prądowych
3.5.5. Przełączanie prądów i segmentacja
3.5.6. Przełączanie źródeł prądowych
3.6. Inne rozwiązania
Zadania
Literatura
Rozdział 4
Przetworniki analogowo-cyfrowe pracujące zgodnie z częstotliwością Nyquista

4.1.Wprowadzenie
4.2. Dokładność zależności czasowych
4.2.1. Błędy czasowe
4.2.2. Błąd metastabilności
4.3. Przetworniki fleszowe jednostopniowe (pełnofleszowe)
4.3.1. Napięcia odniesienia
4.3.2. Niezrównoważenie komparatorów
4.3.3. Autozerowanie niezrównoważenia
4.3.4. Ograniczenia praktyczne
4.4. Dzielenie na podzakresy i przetworniki dwustopniowe
4.4.1. Wymagania dotyczące dokładności
4.4.2. Przetwarzanie dwustopniowe jako proces nieliniowy
4.5. Składanie sygnałów i interpolacja
4.5.1. Składanie podwójne
4.5.2. Interpolacja
4.5.3. Zastosowanie interpolacji w przetwornikach fleszowych
4.5.4. Zastosowanie interpolacji w przetwornikach ze składaniem sygnałów
4.5.5. Interpolacja w celu poprawy liniowości
4.6. Przetworniki z przeplotem czasowym
4.7. Przetwornik z kompensacją równoległą
4.7.1. Błędy i ich korekcja
4.7.2. Redystrybucja ładunku
4.8. Przetworniki potokowe
4.8.1. Wymagania dotyczące dokładności
4.8.2. Korekcja cyfrowa
4.8.3. Parametry dynamiczne
4.8.4. Układ wytwarzający sygnał reszty danych spróbkowanych
4.9. Inne metody
4.9.1. Przetwornik cykliczny (lub algorytmiczny)
4.9.2. Przetwornik całkujący
4.9.3. Przetwornik napięcie-częstotliwość
Zadania
Literatura
Rozdział 5
Elementy układowe przetworników danych

5.1. Układy próbkująco-pamiętające
5.2. Układ p/p z mostkiem diodowym
5.2.1. Niedoskonałości mostka diodowego
5.2.2. Ulepszony mostek diodowy
5.3. Przełączany wtórnik emiterowy
5.3.1. Realizacja układu
5.3.2. Komplementarny, bipolarny układ p/p
5.4. Właściwości układów p/p z tranzystorami bipolarnymi
5.5. Układ próbkująco-pamiętający CMOS
5.5.1. Przenikanie przebiegu zegarowego
5.5.2. Kompensacja przenikania przebiegu zegarowego
5.5.3. Dwustopniowy wzmacniacz OTA jako układ śledząco-pamiętający
5.5.4. Wykorzystanie masy pozornej w układach p/p CMOS
5.5.5. Analiza szumowa
5.6. Przełącznik CMOS o małym napięciu zasilającym
5.6.1. Zasada działania
5.6.2. „Bootstrapping” przełącznika
5.7. Wzmacniacze składające sygnał
5.7.1. Składanie sygnałów prądowych
5.7.2. Składanie sygnałów napięciowych
5.8. Konwerter napięcie-prąd
5.9. Wytwarzanie przebiegu zegarowego
Zadania
Literatura
Rozdział 6
Nadpróbkowanie i modulatory ΣΔ niskiego rzędu

6.1.Wprowadzenie
6.1.1. Zalety nadpróbkowania
6.1.2. Modulacja delta i sigma-delta
6.2. Kształtowanie szumów
6.3. Modulator pierwszego rzędu
6.3.1. Wyjaśnienia intuicyjne
6.3.2. Zastosowanie kwantyzacji jednobitowej
6.4. Modulator drugiego rzędu
6.5. Projektowanie układu
6.5.1. Niezrównoważenie
6.5.2. Skończona wartość wzmocnienia wzmacniacza operacyjnego
6.5.3. Skończona wartość pasma częstotliwości wzmacniacza operacyjnego
6.5.4. Skończona wartość szybkości zmian napięcia wyjściowego wzmacniacza operacyjnego
6.5.5. Nieidealne działanie przetwornika a/c
6.5.6. Nieidealne działanie przetwornika c/a
6.6. Projektowanie systemów
6.6.1. Zakres dynamiczny integratora
6.6.2. Optymalizacja zakresu dynamicznego
6.6.3. Realizacja modulatora danych spróbkowanych
6.6.4. Analiza szumów
6.6.5. Błąd kwantyzacji i dithering
6.6.6. Kwantyzatory jednobitowe i wielobitowe
Zadania
Literatura
Rozdział 7
Przetworniki ΣΔ o czasie ciągłym, wysokiego rzędu i przetworniki c/a ΣΔ

7.1. Zwiększenie stosunku sygnału do szumu
7.2. Wysokiego rzędu kształtowanie szumu
7.2.1. Rozwiązania jednostopniowe
7.2.2.Analiza stabilności
7.2.3. Sprzężenie zwrotne z sumowaniem wagowym
7.2.4. Modulator ze sprzężeniem lokalnym
7.2.5. Łańcuch integratorów z rozłożonym sprzężeniem zwrotnym
7.2.6. Kaskadowy modulator ΣΔ
7.2.7. Zakres dynamiczny MASH
7.3. Modulatory ΣΔ
7.3.1. Ograniczenia układu próbkująco-pamiętającego
7.3.2. Realizacje układów o czasie ciągłym (CT)
7.3.3. Projektowanie układów o czasie ciągłym (CT) na podstawie równoważnych im układów z danymi spróbkowanymi
7.4. Pasmowoprzepustowy modulator ΣΔ
7.4.1. System N-torowy z przeplotem
7.4.2. Synteza funkcji przenoszenia szumów (NTF)
7.5. Przetworniki c/a z nadpróbkowaniem
7.5.1. Przetwornik c/a 1-bitowy
7.5.2. Podwójny przetwornik c/a z powrotem do zera
Zadania
Literatura
Rozdział 8
Udoskonalone metody cyfrowe

8.1.Wprowadzenie
8.2. Pomiary błędów
8.3.Trymowanie elementów
8.4. Kalibracja z priorytetem
8.5. Kalibracja w tle
8.5.1. Wzmocnienie i niezrównoważenie w przetwornikach z przeplotem
8.5.2. Kalibracja niezrównoważenia bez redundancji
8.6. Dopasowanie dynamiczne
8.6.1. Randomizacja motylkowa
8.6.2. Indywidualne uśrednianie poziomu
8.6.3. Ważone uśrednianie danych
8.7. Decymacja i interpolacja
8.7.1. Decymacja
8.7.2. Interpolacja
Zadania
Literatura
Rozdział 9
Testowanie przetworników a/c i c/a

9.1.Wprowadzenie
9.2. Karta testująca
9.3. Test jakości i niezawodności
9.4. Przetwarzanie danych pomiarowych
9.4.1. Wykres najlepszego dopasowania
9.4.2. Dopasowanie przebiegu sinusoidalnego
9.4.3. Metoda histogramowa
9.5. Statyczne testowanie przetworników c/a
9.5.1. Test charakterystyki przenoszenia
9.5.2. Sumowanie błędów
9.5.3. Błędy nieliniowości
9.6. Dynamiczne testowanie przetworników c/a
9.6.1. Właściwości widmowe
9.6.2. Czas przetwarzania
9.6.3. Energia zakłócenia impulsowego
9.7. Testowanie statyczne przetworników a/c
9.7.1. Cel testu statycznego
9.7.2. Pomiar granicy wyjściowego słowa cyfrowego
9.8. Dynamiczne testowanie przetworników a/c
9.8.1. Parametry w dziedzinie czasu
9.8.2. Poprawienie czystości fal sinusoidalnych
9.8.3. Pomiar niepewności aperturowej
9.8.4. Pomiar czasu ustalania
9.8.5. Zastosowanie FFT do testowania
Zadania
Literatura
o czasie ciągłym
o czasie ciągłym, wysokiego rzędu i przetworniki c/a


Newsletter

Schowek


Brak tytułów w schowku.